日本進口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置  IFM  特點介紹

通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像，對拋光表面的表面精度和光學(xué)元件的透射波前精度進行量化和可視化，從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。

新開發(fā)的IFM兼容最新的操作系統(tǒng)，通過引入新算法提高了測量精度，并具有滿足各種需求的分析功能。這是一種操作簡單、任何人都可以使用的干涉條紋分析裝置。

日本進口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置  IFM  規(guī)格參數(shù)

?使用圖標(biāo)操作，即使是初學(xué)者也能輕松進行測量

?通過引入圖像處理技術(shù)，提高相位連接精度

?增加各種分析功能

→ 澤尼克系數(shù)：可以使用邊緣澤尼克系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)澤尼克系數(shù)進行分析

→ 醫(yī)療記錄青色系數(shù)：在正交坐標(biāo)系和像差消除功能

→ 用戶自定義功能分析：Zernike、PV、彗形像差、功率等計算功能

→ 相位數(shù)據(jù)計算功能：平均處理、2 球法、3 平面法

→ 異常自動消除功能圖像（灰塵、劃痕）

、PV值、RMS值、賽德爾像差（球面/慧差/長寬比）、3D（鳥瞰圖）、2D（輪廓圖）、截面分析等。

[配置項目]

IFM干涉條紋分析軟件、移相器（壓電驅(qū)動方式）、控制驅(qū)動器（移相器驅(qū)動、圖像數(shù)據(jù)A/D轉(zhuǎn)換等） PC、計算機架

[分析項目]

PV值、RMS值、鳥類眼睛視圖、輪廓線圖、橫截面視圖、賽德爾像差

ISO 兼容：IRR（Ascuse）、RSI（質(zhì)量）

Zernike 系數(shù)：Fringe Zernike（36 項）、Standard Zernike（45 項）

用戶定義函數(shù)、頻率分析、

【分析像素標(biāo)準(zhǔn)】640×480像素（特殊訂單：300萬像素）

【等級】 10bit

【電源】 AC100V 50/60Hz 2A